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Phasics SID4-Dwir波前传感器基于Phasics的四波横向剪切干涉技术，SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段（3-5，8-14µm）。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率（160×120个测量点）。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量（CO2，OPO激光…）。

Phasics SID4 UV波前传感器利用其的四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（0.5 nm RMS）。这确保了UV镜头，表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。

基于Phasics四波横向剪切干涉zhuan利技术，SID4-HR波前分析仪提供了一个无yulun比的相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微… Phasics 高分辨波前传感器

基于Phasics专li的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。 Phasics 波前传感器

Phasics 波前传感器SID4-UVHR是*适用于光学元件的特性（用于光刻技术、半导体…）和表面检查（透镜和晶片…）。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。

Phasics 波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。

TTI TIA-525I-FC光电探测器的原理是由辐射引起被照射材料电导率发生改变。光电探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等

Duma 光束质量分析仪具有12位的动态范围，能对连续光和脉冲光的形状，位置，功率等光束特性进行方位测量.